- [檢測(cè)百科]分享：某發(fā)射筒端蓋密封失效分析2023年10月24日 10:59
- 某發(fā)射筒端蓋在周轉(zhuǎn)過(guò)程中出現(xiàn)密封失效,通過(guò)理化檢驗(yàn)和失效模擬試驗(yàn)等方法,對(duì)該 端蓋密封失效的原因進(jìn)行了分析.結(jié)果表明:端蓋外表面在周轉(zhuǎn)過(guò)程中受到機(jī)械外力作用產(chǎn)生了 裂紋,裂紋不斷擴(kuò)展導(dǎo)致泄漏失效;將包裝箱內(nèi)緩沖材料厚度適當(dāng)增加,使發(fā)射筒與緩沖材料的間 隙小于１mm,可有效避免此類失效的發(fā)生.
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