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金屬化學(xué)成分分析-痕量元素分析
樣品中待測組分含量低于百萬分之一的分析方法，主要是利用等離子體質(zhì)譜儀、原子吸收光譜儀、原子熒光光譜儀等分析儀器進(jìn)行定量分析。更多 +
- [檢測百科]分享：使用飛行時間二次離子質(zhì)譜法判定痕量氧元素的測試方法2024年11月18日 14:04
- 通過一次離子轟擊固體材料表面,使二次離子從試樣表面發(fā)射的方法叫作二次離子質(zhì)譜（SIMS）法。飛行時間二次離子質(zhì)譜（ToF-SIMS）法的原理是利用一次離子束濺射固體材料表面,得到二次離子,根據(jù)到達(dá)檢測器的時間推斷出二次離子的質(zhì)荷比,從而得到試樣表面的成分信息[1]。ToF-SIMS是一種應(yīng)用廣泛的固體表面分析技術(shù),具有高質(zhì)量分辨率和高空間分辨率,其檢測靈敏度很高,可以檢測到痕量級（質(zhì)量分?jǐn)?shù)約為0.000 1%）的雜質(zhì)。
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- [檢測百科]分享：電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定高純 五氧化二鉭中２０種痕量雜質(zhì)元素2021年09月01日 10:28
- 將五氧化二鉭樣品在１０５℃下烘干２ｈ，冷卻至室溫后，取樣品０．５０００ｇ，加入氫氟酸５ｍＬ，硝酸２．５ｍＬ，按程序升溫微波消解，用水定重至５０．０ｇ。應(yīng)用動態(tài)反應(yīng)池技術(shù)消除多原子離子對鐵元素的干擾，甲烷反應(yīng)氣流量為０．２ｍＬ·ｍｉｎ－１，Ｒｐｑ為０．８０。以標(biāo)準(zhǔn)加入法補償基體效應(yīng)制作標(biāo)準(zhǔn)曲線，采用電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定２０種雜質(zhì)元素的含量。各元素的檢出限（３狊）在０．００
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- [檢測百科]分享：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定高純氧化鈧中痕量鐵2021年06月11日 10:20
- 鄒 龍，劉榮麗，易 師 （湖南稀土金屬材料研究院，長沙４１０１２６） 中圖分類號：Ｏ６５７．３１ 文獻(xiàn)標(biāo)志碼：Ｂ 文章編號：１００１４０２０（２０１７）０７０８１４０４ 鈧作為稀土元素，具有獨特的物理化學(xué)性質(zhì)，如鈧元素加到鋁合金中，可以顯著提高合金的再結(jié)晶溫度，強烈抑制沿晶斷裂傾向，提高合金強度、塑性和斷裂韌性［１２］。近年來，隨著新材料技術(shù)的迅猛發(fā)展，氧化鈧（Ｓｃ２Ｏ３）更是廣泛應(yīng)用于固體氧化物燃料電池（ＳＯＦＣｓ）［３］、新一代激光晶體［４］、大功率金屬
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