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金屬化學(xué)成分分析-X射線熒光法
X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發(fā)射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。更多 +
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有害物質(zhì)檢測-X-Ray法
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）而進行能量光譜分析。更多 +
- [檢測百科]分享：硫酸轉(zhuǎn)化器中心筒筋板0Cr18Ni9鋼劣化原因2025年06月23日 11:05
- 某硫酸轉(zhuǎn)化器中心筒筋板材料發(fā)生嚴重氧化，材料劣化嚴重。采用宏觀觀察、化學(xué)成分分析、力學(xué)性能測試、金相檢驗、掃描電鏡及能譜分析、X射線衍射分析等方法分析了筋板劣化的原因。
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- [檢測百科]分享：M50螺栓斷裂原因2025年06月19日 13:12
- 某海洋環(huán)境下服役的M50螺栓發(fā)生斷裂。采用宏觀觀察、化學(xué)成分分析、掃描電鏡及能譜分析、X射線衍射分析、二次質(zhì)譜分析、金相檢驗等方法分析了螺栓斷裂的原因。結(jié)果表明：螺栓長期在潮濕的海洋環(huán)境中服役，導(dǎo)致其發(fā)生電化學(xué)腐蝕，螺栓表面形成了點蝕坑，并釋放出氫離子；螺栓的根部存在應(yīng)力集中，氫離子在根部螺紋區(qū)域富集，最終導(dǎo)致螺栓發(fā)生應(yīng)力腐蝕斷裂。
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- [檢測百科]分享：交變載荷作用下無碳化物貝氏體鋼中殘余奧氏體的轉(zhuǎn)變規(guī)律2025年06月12日 09:17
- 在不同應(yīng)力水平（應(yīng)力幅為200~550 MPa，應(yīng)力比為?1）下對無碳化物貝氏體鋼進行疲勞試驗，采用掃描電鏡、透射電鏡、X射線衍射和電子背散射衍射等研究了交變載荷作用下試驗鋼中殘余奧氏體的轉(zhuǎn)變規(guī)律。
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- [檢測百科]分享：310S和316L不銹鋼在超臨界環(huán)境中的均勻腐蝕行為2025年06月06日 14:00
- 在600 ℃、20 MPa超臨界二氧化碳（S-CO2）環(huán)境中研究了310S和316L奧氏體不銹鋼的腐蝕行為。在靜態(tài)高壓釜中對兩種不銹鋼進行了500 h的均勻腐蝕試驗，采用掃描電子顯微鏡（SEM）、能譜儀（EDS）、X射線衍射儀（XRD）等觀察和分析了試樣表面氧化膜的形貌、成分及結(jié)構(gòu)。
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- [檢測百科]分享：硫酸鹽還原菌對耐微生物腐蝕鋼腐蝕行為的影響2025年05月26日 13:18
- 在硫酸鹽還原菌（SRB）和CO2共存環(huán)境中對耐微生物腐蝕鋼進行了浸泡腐蝕試驗和電化學(xué)試驗,并通過掃描電鏡（SEM）、能譜（EDS）和X射線衍射（XRD）等觀察和分析了腐蝕后試樣的腐蝕形貌和腐蝕產(chǎn)物成分。
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- [檢測百科]分享：超聲霧化和離心霧化SnAgCu焊粉在焊膏中的腐蝕行為2025年05月26日 10:58
- 采用掃描電子顯微鏡（SEM）、X射線光電子能譜（XPS）等方法對比研究了超聲霧化和離心霧化SnAgCu焊粉在焊膏中的腐蝕行為。結(jié)果表明：超聲霧化焊粉表面光滑,富Ag相均勻分布在其上,離心霧化焊粉表面布滿枝晶,富Ag相在晶界聚集；超聲霧化焊粉的腐蝕發(fā)生在較大富Ag相顆粒位置,呈局部點狀腐蝕特征,而離心霧化焊粉則顯示為全面腐蝕特征,且晶界處腐蝕尤為嚴重；統(tǒng)計顯示,超聲霧化焊粉中僅少量粉體出現(xiàn)腐蝕坑,而離心霧化焊粉中所有粉體均因腐蝕發(fā)生形貌變化；隨儲存時間即腐蝕時間延長,離心霧化焊粉表面氧化層減薄更迅速,其耐蝕性劣于超聲霧化焊粉。合金相、晶界的分布是造成焊膏儲存穩(wěn)定性差異的重要原因。
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- [檢測百科]分享：真空熱處理溫度對Ni60合金涂層耐蝕性的影響2025年05月22日 15:32
- 為了提高質(zhì)子交換膜燃料電池（PEMFC）不銹鋼雙極板的耐蝕性,采用大氣等離子噴涂技術(shù)在316 L不銹鋼表面制備了Ni60合金涂層,并對涂層進行不同溫度的真空熱處理,利用掃描電鏡、X射線衍射儀以及電化學(xué)測試,研究了真空熱處理溫度對涂層耐蝕性的影響。
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- [檢測百科]分享：X射線光電子能譜測試參數(shù)對CaF2氧元素含量測試結(jié)果的影響2025年04月29日 13:24
- 針對在X射線光電子能譜刻蝕剖析過程中出現(xiàn)測試結(jié)果失真的問題，以CaF2試樣為研究對象，通過改變離子束能量、刻蝕后停頓時間、氧元素的精細譜掃描順序等參數(shù)，對試樣表面氧元素含量的測試結(jié)果進行分析，同時使用SRIM軟件模擬計算氬離子束刻蝕CaF2產(chǎn)生的空位缺陷，為測試失真分析提供數(shù)據(jù)支持。結(jié)果表明：在CaF2表面測得氧元素的原因為試樣表面吸附殘余氣體中的羥基和O2；通過優(yōu)化X射線光電子能譜測試參數(shù)，有效去除了表面的羥基和吸附的O2，削弱或者消除了殘余氣體對測試結(jié)果的影響；材料的極性分子和低表面結(jié)合能是離子刻蝕過程中表面快速吸附殘余氣體的主要原因。研究結(jié)果對使用X射線光電子能譜準確表征具有極性分子材料的元素成分具有重要指導(dǎo)意義。
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- [檢測百科]分享：波長色散X射線熒光光譜法測定生鐵樣品中14種元素的含量2025年04月17日 10:44
- 提出了波長色散X射線熒光光譜法測定生鐵樣品中硅、錳、磷、硫、鎳、鉻、釩、鉬、銅、鈦、鎢、砷、錫、鉛等14種元素含量的方法。生鐵樣品（直徑35 mm,厚度8 mm）采用賀利氏鐵水取樣器取得,在紅熱狀態(tài)下立即敲出,放入冷水槽中急速冷卻,再用粒度為0.25 mm的砂紙打磨,通過儀器自帶的數(shù)字回歸法校正譜線重疊干擾,以生鐵標準樣品和內(nèi)控樣品繪制校準曲線。結(jié)果表明,各元素的檢出限為0.000 3%~0.001 4%。樣品精密度試驗所得測定值的相對標準偏差（n=10）均小于2.5%。方法用于分析3個實際生鐵樣品,各元素的測定結(jié)果均與對應(yīng)國家標準方法的基本一致。
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- [檢測百科]分享：全自動熔融爐制樣方法2025年04月16日 11:12
- 常用X射線熒光（XRF）分析試樣的制備方法有粉末壓片法和熔融鑄片法。鋼廠中主原料及副原料主要含有TFe、Al2O3、SiO3、P2O5（P）、CaO、MgO、Na2O等雜質(zhì),采用粉末壓片法檢測主副原料成分的粒度效應(yīng)較大[1],采用熔融法可以消除粒度差異帶來的干擾,提高結(jié)果的準確性。
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- [檢測百科]分享：運載火箭筒體縱縫DR檢測系統(tǒng)的研制及應(yīng)用2025年04月01日 14:03
- 運載火箭作為最重要的航天運輸工具,由箭體結(jié)構(gòu)、增壓輸送系統(tǒng)及飛行控制系統(tǒng)組成,其中箭體結(jié)構(gòu)主要包括氧化劑和燃料劑貯箱等部件,增壓輸送系統(tǒng)主要包括導(dǎo)管和氣瓶等部件[1-2]。
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- [檢測百科]分享：波長色散X射線熒光光譜法測定生鐵樣品中14種元素的含量2025年02月11日 13:22
- 鐵水成分的檢測作為轉(zhuǎn)爐煉鋼前的重要工序,直接關(guān)系到煉鋼成分的調(diào)配和鋼的質(zhì)量,因此準確測定鐵水中各元素的含量對后續(xù)轉(zhuǎn)爐冶煉過程中控制鋼水成分至關(guān)重要。近年來,為了加快煉鋼生產(chǎn)節(jié)奏以及轉(zhuǎn)變鐵包加廢鋼的工藝,需要預(yù)知加廢鋼后的鐵水成分,以便在生產(chǎn)過程中控制冶煉工序中鋼水中各元素的含量,還對鐵水中各元素的檢測周期提出了更嚴苛的要求。
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- [檢測百科]分享：電阻點焊熔核質(zhì)量的超聲原位監(jiān)測2024年12月17日 13:11
- 電阻點焊是一種基于焦耳定律開發(fā)的焊接方法,世界上首臺點焊機是利用變壓器作為電源來實現(xiàn)電阻點焊的[1-2]。點焊機工作時,通過壓緊兩端電極臂,使兩層或多層金屬薄板在焊接處緊密貼合,再控制電流大小和通電時間,使工件接觸界面局部熔化并冷卻形核[3]。電阻點焊工藝過程涉及電、熱、機械和冶金的相互作用,熔核尺寸和組織形態(tài)對焊點質(zhì)量有決定性作用[4-5]。當前,電阻點焊常用的熔核無損檢測方法主要有紅外輻射法[6]、焊接參數(shù)監(jiān)測[7]、渦流磁感應(yīng)[8]、X射線透視、超聲波掃查[9]等。
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- [檢測百科]分享：X射線檢測分析技術(shù)在文物保護修復(fù)中的應(yīng)用2024年12月02日 12:56
- X射線檢測分析技術(shù)還包括工業(yè)計算機斷層成像、中子活化同步輻射X射線等,這些技術(shù)也被逐步應(yīng)用到文物保護修復(fù)領(lǐng)域。X射線檢測分析技術(shù)存在設(shè)備價格高、檢測成本高、數(shù)據(jù)庫不全面、輻射防護要求高等問題,但通過實際案例分析,X射線檢測分析技術(shù)在文物保護修復(fù)領(lǐng)域有較大的應(yīng)用空間。對成分復(fù)雜多樣的文物試樣而言,要在最大化保證文物安全的前提下,結(jié)合多種多項檢測分析技術(shù),進一步深度挖掘文物的內(nèi)在信息。
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- [檢測百科]分享：掃描電子顯微鏡用X射線能譜儀在定量分析中的應(yīng)用2024年11月26日 13:22
- 采用掃描電子顯微鏡（SEM）與X射線能譜儀（EDS）聯(lián)合應(yīng)用的方法對材料進行微區(qū)化學(xué)成分分析是一種重要的分析手段[1],該方法方便快捷,對不平試樣也可以用無標樣定量程序得到較好的定性、半定量分析結(jié)果,應(yīng)用較為廣泛。
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